ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO 测量仪器

ZMI-2002 8020-0211-1-J   ZYGO测量仪器

产品介绍

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 是一款高精度的测量仪器,主要用于表面形貌的测量。该仪器采用激光干涉仪测量原理,能够测量高度差,曲率半径,表面形状等参数。

技术说明

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 的激光干涉仪测量原理是通过将激光束分成两束,分别射向被测物表面和参考平面,然后将反射回来的光束重新合成一束,通过干涉条纹的变化来测量被测物表面的高度差。

产品说明

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描述

ZMI-2002 8020-0211-1-J   ZYGO测量仪器

产品介绍

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 是一款高精度的测量仪器,主要用于表面形貌的测量。该仪器采用激光干涉仪测量原理,能够测量高度差,曲率半径,表面形状等参数。

技术说明

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 的激光干涉仪测量原理是通过将激光束分成两束,分别射向被测物表面和参考平面,然后将反射回来的光束重新合成一束,通过干涉条纹的变化来测量被测物表面的高度差。

产品说明

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 由测量主机和测量探头两部分组成。测量主机包含显示屏、控制面板、数据处理器等;测量探头包含激光发射器、激光接收器、探头支架等。

产品参数

  • 测量范围:0-10mm
  • 测量精度:0.1nm
  • 光源波长:632.8nm
  • 工作距离:18mm
  • 工作温度:10-30°C

产品规格

  • 外形尺寸:260mm × 110mm × 170mm
  • 重量:2.5kg
  • 电源:AC 220V,50Hz

应用领域

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 适用于电子、光学、精密机械等领域的表面形貌测量。

常见问题解答

Q: ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 是否支持远程控制? A: 是的,可以通过 RS-232 接口实现远程控制。

Q: 如何保养和维护 ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J? A: 请定期清洁测量探头和探头支架,并注意防潮和防尘。

Q: 是否可以使用其他波长的光源进行测量? A: 不建议使用其他波长的光源,会影响测量精度。

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